EN-3020B分立器件测试仪

概述：EN-3020B型分立器件测试仪是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标，系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。

系统特点：

功率源 3000V/200A

测试系统整体采用计算机操控

测试数据由计算机记录，并进行 Excel 处理

采用脉冲法测试，脉宽为国军标

自动化程度高（可按设定的程序自动测试）

测试灵活（**应对器件及多单元模块测试）

Labview 平台开发，数据编辑处理功能强，菜单式，模块化，人机友好设备操作简单、性能稳定非常适合电气，电子类厂商, 研究所做 IQC 来料检验、器件选型，失效分析以及学校教学和轨道机车地铁高铁检测使用。

●规格环境

尺寸：250×570×280（mm）

质量：15kg

环境温度：15~40℃

工作电压；AC220V±10%（无严重谐波）

电网频率：50Hz

通信接口；USB RS232

IGES

栅极电压Vge: 5-40V±3%±0.1V

电压VCESa

集电极电流ICE: 10-100A±2%±1A

集电极-发射极截止

集电极电流ICES: 0.1-1mA±3%±0.01mA

电流ICES

栅极电压VGE: 0V

压

二极管压降测试

IF:5-100A±2%±1A

反向漏电流IR

导通电阻RDS（on）