半导体材料电学性质测试SMU源表

半导体材料电学性质测试SMU源表nface="微软雅黑">nface="微软雅黑">普赛斯仪表，普赛斯数字源表自主研发生产，对标美国2400，B2901； 可 nface="微软雅黑">实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率； 支持四象限工作 ， 测量范围广， nface="微软雅黑">电压高300V，电流低至100pA；可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害； 5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

一、源表定义

“源表” nface="微软雅黑">又称“数字源表”、“源测量单元”，是一种可编程控制，作电压源或电流源提供精确的电压或电流，并同步测量和 IV 扫描的通用仪表。

二、源表特点：

多功能： 可作源和负载，又能测；

高效率： 满足多种测试需求；

可编程控制： 高精度可调，灵活控制；

IV扫描： 快速、直观显示，一步操作。

三、应用领域：

nface="微软雅黑">分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

nface="微软雅黑">能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

四、测试 功能：

微电路
1	晶圆	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
2	芯片	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
器件
1	二极管	正向导通电压、正向电流、反向击穿电压、反向漏电流
2	三极管	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
3	MOSFET	L-IV测试，输入曲线、输出曲线
4	IGBT	L-IV测试，输出曲线、转移曲线
5	晶闸管	正向电压电流曲线、反向电压电流曲线、触发特性
电池
1	锂电池	IV测试，充放电扫描曲线
2	光伏电池	IV测试，放电扫描曲线
材料
1	石墨烯	IV测试、输入曲线、输出曲线
2	纳米线	IV测试、输入曲线、输出曲线

五、 S系列介绍：

nface="微软雅黑">特点：

1、 5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作

2、 nface="微软雅黑">内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

3、 nface="微软雅黑">源及测量的准确度为0.1%，分辨率5数位

4、 nface="微软雅黑">四象限工作（源和肼），源及测量范围：电流100pA~1A，电压0.3mV~300V

5、丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

6、 nface="微软雅黑">支持USB存储，一键导出测试报告

7、 nface="微软雅黑">支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

参数：

源限度	电压源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ;
电流源	士1.05A(≤30V量程)，+105mA (≤300V量程) ;
过量程	105%量程,源和测量;
稳定负载电容	<22nF ;
宽带噪声(20MHz)	2mVRMS(典型值)，<20mVVp-p(典型值);
线缆保护电压	输出阻抗1K9 ,输出电压偏移<80uV ;
最大采样速率	1000采样点/秒;
触发	支持IO触发输入及输出,触发极性可配置;
输出接口	前后面板香蕉头插座输出,同- -时刻只能用前或者后面板接口;
通信口	RS-232、GPIB、以太网;
电源	AC 100~ 240V 50/60Hz ;
工作环境	25+10°C ;
尺寸	106mm高x 255mm宽x 425mm长;
重量	5Kg ;
质保期	3 年;

六 、国产优势

1、自主研发，符合大环境下国内技术自给的需求；

2、性价比高；

3 、可及时与客户沟通，为客户提供高性价比系统解决方案。及时指导客户编程，加速测试系统开发。

半导体材料电学性质测试SMU源表联系我们：

单位名称 ：武汉普赛斯仪表有限公司

官方网站 nface="微软雅黑">：hp://www.whpssins.com

单位地址 nface="微软雅黑">：武汉市东湖开发区光谷大道308号光谷动力绿色环保产业园8栋2楼

联系人：陶女士

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