半导体器件静态特性综合试验台

为中车集团株洲电力机车研究所定制的半导体器件静态特性综合试验台

一、概述

  DBC-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合/T7626-2013中的相关标准。

该设备具有如下特点：

1. 该测试系统是一套静态综合的测试系统，综合测试参数多，技术水平较高。

2. 该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备，对设备的电气性能要求高。

3. 该系统是一套静态参数的集成测试系统，因此该设备的结构设计较为复杂

4. 该系统的测试控制完全采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。

5. 该系统采用计算机记录测试结果，并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理，还能实时打印测试结果。

6. 该测试系统是半导体器件检验测试中不可缺少的专用测试设备。

 该套测试设备主要由以下几个单元组成：

1) 门极触发参数测试单元

2) 维持电流测试单元

3) 通态电压参数测试

4) 阻断参数测试单元

2-2.4 阻断测试

1. 阻断电压（VDRMVRRM）：200—6000V，分辨率10V，准确度±3%±10V；

   分两档：200-999V  分辨率10V，准确度±3%±10V；

1000-6000V  分辨率10V，准确度±3%±10V；

2. 阻断漏电流(IDRMIRRM)： 1—100mA    精度 ±3%±0.1mA              

3.保护漏电流：1-99mA

计算机设定测试时断态/反向峰值电压的保护电压数值及断态/反向峰值电流的保护电流的数值。

4. 测试频率：50HZ；

5. 测试方式：手动测试方式；

三、功能概述

3-1测试范围

该套测试设备主要可测试以下参数：

1. 门极触发测试：VGT、IGT

2. 维持电流测试：IH

3. 通态电压测试：VTM、ITM 

4. 阻断参数测试：VD、VR 、ID、IR

3-2 计算机控制系统

 计算机控制系统是该设备的中心控制单元，设备的所有工作程序，工作时序，开关的动作状态，数据的收集等均由计算机完成。

 计算机采用的是研华工业控制机，机箱为610H型，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点。

在计算机中，安装有仪器公司生产的数据收集卡NI6221。

NI PCI6221是一块多功能的数据收集卡，具有三组数据端口，16/8个模拟量输入端口，两个模拟量输出口、两个定时器计数器。