激光平面干涉仪型号:60-LP 库号M107501

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详细说明

紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。
最大测量口径：Φ60mm
测量方式：菲索干涉原理
光源：半导体激光器(635nm)
对准方式：简单两点对准

标准参照镜面形精度：p-v：λ/20

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激光平面干涉仪 型号:60-LP 库号M107501