KIF-20-UW激光干涉仪【慧思】 
------------------------?P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的显示功能(不能进行±判别及角度判别)?规格值设定及合格判断功能?影面设定功能?单一测定、连续测定功能干涉条纹测定时的再现性PV值0.1 λ以下?※基于本公司的测定条件。干涉条纹测定时间约1.0秒(根据电脑性能而定)选配件?测长装置?带槽嵌入式连接器(螺口式参照镜用)?干涉条纹解析装置(KIF-FU60/KIF-FSA)?参照镜(RF60、F0.6、F0.7、F1.0、F1.5、F2.0、F3.0、 F4.0、F6.0、C150、C300、C490、V520、V670、V750、 APC60-15)*1?衰减过滤器(AF60)*1: 部分参照镜需要配合带槽式连接器使用。 KIF-20-UW激光干涉仪是牛顿评价类型的干涉仪系统。该系统适用于快速质量检查和对量产透镜的数控管理。
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操作简便
将与被检镜片相匹配的镜片适配器安装到载物台上,只需从上面放上被检镜片,即可进行检查。特别适用于相同规格镜片的批量生产现场。
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采用新型参照镜台座
采用了带槽式新型参照镜台座,可以防止装拆参照镜时的跌落损伤,并且参照镜的更换也变得简单省时,有益于提高生产效率。
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稳定的检查测定
带有防振功能的高刚性干涉仪本体,充分考虑到生产现场的使用环境,具有优异的环境适应性和操作性。
KIF-FIA主画面 参照镜的装拆 ----------------- 
