近年来，由于环境方面的考虑，例如由于消除了氯氟烃和无铅衬底制造工艺以及层数的增加和衬
底的精细间距，由于离子迁移引起的集成电路问题已迅速引起人们的关注。是背景。在某些情况
下，由于实际上可以提高产品质量的材料成分引起的离子迁移，意料之外的故障已泄漏到市场上。
该产品是开发印刷电路板，显示面板，IC 封装等产品，连接器和电容器等电子零件及其材料时用
于离子迁移评估的新型系统。
在高温高湿的环境中，向上述样品施加偏置电压，并且在所有通道上分别安装施加的电源和测量
电路，以便长时间稳定地测量绝缘电阻的劣化。 采用专用电缆和专用电路进行低电流测量，具有
恒定电压监控器和系统自诊断功能，可确保作为数据记录器的高可靠性。
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