我们X射线荧光（XRF）团队的应用科学家们出席了在瑞典哥德堡举办的年无损检测欧洲研讨会（ECNDT）。在研讨会上，他们探讨了一些包括筛检玻璃制品和测量涂层厚度在内的有趣的话题。
您可以查看下面的文件和演示文稿，以了解您错过的内容。
使用手持式X射线荧光分析仪测量涂层的厚度
手持式X射线荧光（HHXRF）技术可用于测量涂层的厚度，与其他技术相比，这种技术在**度和便携性方面占有优势。在较大的表面区域上进行涂层分析，通常需要使用台式仪器通过某些损坏性的操作程序来完成。手持式XRF技术克服了这个局限性，为用户提供了一种无损涂层厚度检测能力。
用户通过分析仪用户界面中内置的校准功能，可以非常方便地使用一种认证标准样品，对*多3个涂层的材料进行分析，并准确地测量这些涂层的厚度。使用手持式XRF分析仪对涂层的厚度进行测量，不需要考虑基底材料，而且可使用户自由地分析含有从钛（Ti）到钚（Pu）元素的任何沉积性涂层。由于要分析的元素范围很大，因此分析现场附近的实验室可以借助手持式XRF分析仪传送的准确结果，判断所检测的材料是否出现了腐蚀、磨损和涂层粘附等问题。
涂层分析的物理基础是朗伯比尔吸收定律，根据这个定律，X射线在刚刚进入样品的第一个涂层时，强度**，但是随着它在涂层中的传播，强度会逐渐减小。在进入第二个涂层时，X射线的强度已经降低，因为其部分强度已经被前一个涂层所吸收。随着各个涂层对X射线呈指数的吸收，进入到样品中的X射线的强度将继续减小，所吸收的量取决于样品的物理特性。