深圳可测金属材料元素仪器 成分分析仪 镀层膜厚仪

 
 
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更新 2025-01-06 15:17
 

深圳市仁瑞电子科技有限公司

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详细说明

能量色散X荧光光谱仪工作原理:

nface="宋体" size="3">通过高压产生电子流达到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到待测样品产生次级X射线,也就是通常说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经过放大,数模转换输入到计算机,计算机**通过计算,才能得出测试样品的结果。

nface="宋体" size="3">优势:

nface="宋体" size="3">XRF这样的筛检技术虽然不能评定是否真正符合RoHS条例,能够正确判断出铬和溴含量高于极限值,并不代表产品不符合RoHS条例。但是,我们应该了解这些物质的构成,并且,借助经验丰富的分析技术作出正确的评估。X射线荧光光谱法是利用样品对x射线的吸收随样品中的成分及其多少变化而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法。它具有分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单,光谱干扰少,试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点。它不仅用于常量元素的定性和定量分析,而且也可进行微量元素的测定,其检出限多数可达10-6。与分离、富集等手段相结合,可达10-8。测量的元素范围包括周期表中从F-U的所有元素。多道分析仪,在几分钟之内可同时测定20多种元素的含量。

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