超高精度薄膜测厚仪A3 DERPSON
DERPSON薄膜测厚仪A3，薄膜厚度高精度测量标准配置，采用机械接触式测量薄膜方式，严格符合国际国内标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。适用于各类薄膜厚度的高精度测量。 |
标准配置
高精度显示器*1PC 电感测头*1PC 大圆弧测帽*1PC 真空提升器*1PC
大理石工作台*1PC 操作说明书*1PCS 产品合格证*1PC
执行标准 该设备满足多项国际和国家标准 |
产品特性
薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量；
测量精度高，分辨率可达0.01um；
测量速度快，结果响应时间为0.015s；
大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈；
德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量；
薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能
指标参数
软件特性Filder 1.0（选配项） 特别为薄膜行业开发设计 可实时显示记录显示测量值，并计算**值，最小值，平均值，偏差值等一系列参数 软件自动绘制厚度曲线和偏差图 测量结果可导出至Excel表格 软件具有用户管理功能，可设置不同的人员权限，有效防止误操作和数据的误删除 具有数据管理功能，测量数据及相关产品、人员信息**保存，便于测量数据的追踪和溯源 |