EN-3020B分立器件测试仪
概述：EN-3020B型分立器件测试仪是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标，系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。
系统特点：
功率源 3000V/200A
测试系统整体采用计算机操控
测试数据由计算机记录，并进行 Excel 处理
采用脉冲法测试，脉宽为国军标
自动化程度高（可按设定的程序自动测试）
测试灵活（**应对器件及多单元模块测试）
Labview 平台开发，数据编辑处理功能强，菜单式，模块化，人机友好设备操作简单、性能稳定非常适合电气，电子类厂商, 研究所做 IQC 来料检验、器件选型，失效分析以及学校教学和轨道机车地铁高铁检测使用。
●规格环境
尺寸：250×570×280（mm）
质量：15kg
环境温度：15~40℃
工作电压；AC220V±10%（无严重谐波）
电网频率：50Hz
通信接口；USB RS232
功能单元 | 参数指标 |
基本参数 | 功率源：3000V/200A |
栅极-发射极漏电流 | IGES: 0.1-10uA±2%±0.01uA |
集电极电压VCE: 0V | |
集电极电压VCES: 200-3000V±2%±10V | |
集电极-发射极电压 | 集电极电流ICES: 0.1-1mA±3%±0.01mA |
栅极电压Vge: 0V | |
集电极-发射极饱和 | VCESat:0.1-5V±2%±0.01V |
栅极电压Vge: ±15V±2%±0.2V | |
集电极电压VCE: 200-3000V±3% | |
栅极-发射极阈值电 | VGEth: 1-10V±2%±0.1V |
Vce=15V | |
VF: 0.1-5V±2%±0.01V | |
Vge: 0V | |
反向击穿BVR | BVR：200-3000V±2%±10V |
IR：0.1-10mA±3%±0.01mA | |
1-10mΩ±2%±0.1 mΩ | |
10-50mΩ±2%±0.5 mΩ |